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Uma metodologia complementar para analisar imagens de AFM – Artigo Publicado

Lacunarity exponent and Moran index: A complementary methodology to analyze AFM images and its application to chitosan films

Erveton P. Pintoa∗, Marcelo A. Piresb, Robert S. Matosa,c, Robert R.M. Zamoraa, Rodrigo P. Menezesd, Raquel S. Araújoa,e, Tiago M. de Souzaf

aUniversidade Federal do Amapá, Amapá 68903-419, Brazil
bCentro Brasileiro de Pesquisas Físicas, Rio de Janeiro 22290-180, Brazil
cUniversidade Federal de Sergipe, Sergipe 49100-000, Brazil
dPontifícia Universidade Católica do Rio de Janeiro, Rio de Janeiro 22541-041, Brazil
eUniversidade Federal de Ouro Preto, Minas Gerais 35400-000, Brazil1
fUniversidade do Estado do Amapá, Amapá 68900-070, Brazil

Propriedades físicas como atrito, desgaste e adesão são fortemente afetadas pelas características topográficas de superfícies em nanoescala (1 nm = 10-9 m). Controlar essas características durante o processamento é uma vantagem pouco explorada na síntese de filmes poliméricos biocompatíveis e biodegradáveis, uma vez que a principal técnica de preparação desses filmes é o método de evaporação do solvente, no qual a formação do filme ocorre de forma espontânea durante o processo de secagem. À vista disso, a Microscopia de Força Atômica (MFA), que é uma técnica de microscopia de varredura por sonda, pode contribuir fornecendo a imagem da nanotextura do material e a matriz de alturas registrada na varredura. De fato, cada pixel da imagem de MFA fornece um valor de altura registrado pelo equipamento através da força de interação entre os átomos da sonda e os átomos da camada mais externa da superfície. Assim, através da matriz de alturas é possível estimar diversos parâmetros estatísticos que permitem quantificar as características superficiais dos filmes. Com isso, surge a possibilidade de conseguir maior controle sobre tais características e, consequentemente, obter um material com a melhor qualidade possível. Foi pensando nisso que desenvolvemos e validamos dois novos scripts que possibilitam a avaliação da homogeneidade e da autocorrelação espacial da superfície de filmes finos através de imagens de MFA. Na esquerda o doutorando Erveton P. Pinto e na direita o seu orientador Tiago M. de Souza (Rede Bionorte – Polo Amapá) .

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Coordenação Estadual Rede Bionorte

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